經濟部標準檢驗局
參加104年在美國加州聖他克拉拉(Santa Clara)舉行「2015 IEEE SYMPOSIUM ON EMC&SI 國際研討會」報告
基本資料
系統識別號: |
C10401621 |
相關專案: |
無 |
計畫名稱: |
參加2015 IEEE SYMPOSIUM ON EMC&SI國際研討會# |
報告名稱: |
參加104年在美國加州聖他克拉拉(Santa Clara)舉行「2015 IEEE SYMPOSIUM ON EMC&SI 國際研討會」報告 |
電子全文檔: |
C10401621_50917.pdf
C10401621_53035.pdf
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附件檔: |
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報告日期: |
104/06/17 |
報告書頁數: |
13 |
計畫主辦機關資訊
姓名 |
服務機關 |
服務單位 |
職稱 |
官職等 |
唐永奇 |
經濟部標準檢驗局 |
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技士 |
其他 |
報告內容摘要
今日電子產品所建構的人類文明,很可能因受到大自然的巨大電磁能量(太陽黑子活動),或是人為所造成的電磁脈沖(核爆產生之EMP)的衝擊而毁於一旦,雖不能避免,但總得有適當的對策才行。
在IEEE EMC的組織下,總共有10個技術委員會(TC)和5個特殊委員會(SC),分別在不同領域提供理事會技術上的指導,每年必須在IEEE的EMC研討會中主辦專題討論會提供新知,同時這些委員會也是啟動制訂新標準的推手。
建議國內集中政府、學術界及產業界的力量,每年也舉辦一次國內較大型相關研討會,分析利基的方向,並分享新知,才能對政府、學術界及產業界做出貢獻。
其他資料
前往地區: |
美國; |
參訪機關: |
2015 EMC&SI研討會場,ITS Melo Park 試驗室,UL San Jose 試驗室 |
出國類別: |
其他 |
關鍵詞: |
EMC&SI,Software-related EMI test pattern auto-generation,EMCG46 |
備註: |
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