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經濟部標準檢驗局

參加104年在美國加州聖他克拉拉(Santa Clara)舉行「2015 IEEE SYMPOSIUM ON EMC&SI 國際研討會」報告

基本資料

系統識別號: C10401621
相關專案:
計畫名稱: 參加2015 IEEE SYMPOSIUM ON EMC&SI國際研討會#
報告名稱: 參加104年在美國加州聖他克拉拉(Santa Clara)舉行「2015 IEEE SYMPOSIUM ON EMC&SI 國際研討會」報告
電子全文檔: C10401621_50917.pdf C10401621_53035.pdf
附件檔:
報告日期: 104/06/17
報告書頁數: 13

計畫主辦機關資訊

計畫主辦機關: 經濟部標準檢驗局 http://www.bsmi.gov.tw/
出國期間: 104/03/14 至 104/03/23
姓名 服務機關 服務單位 職稱 官職等
唐永奇 經濟部標準檢驗局 技士 其他

報告內容摘要

今日電子產品所建構的人類文明,很可能因受到大自然的巨大電磁能量(太陽黑子活動),或是人為所造成的電磁脈沖(核爆產生之EMP)的衝擊而毁於一旦,雖不能避免,但總得有適當的對策才行。 在IEEE EMC的組織下,總共有10個技術委員會(TC)和5個特殊委員會(SC),分別在不同領域提供理事會技術上的指導,每年必須在IEEE的EMC研討會中主辦專題討論會提供新知,同時這些委員會也是啟動制訂新標準的推手。 建議國內集中政府、學術界及產業界的力量,每年也舉辦一次國內較大型相關研討會,分析利基的方向,並分享新知,才能對政府、學術界及產業界做出貢獻。

其他資料

前往地區: 美國;
參訪機關: 2015 EMC&SI研討會場,ITS Melo Park 試驗室,UL San Jose 試驗室
出國類別: 其他
關鍵詞: EMC&SI,Software-related EMI test pattern auto-generation,EMCG46
備註:

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主題分類: 標準檢驗
施政分類: 標準檢驗
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