國立故宮博物院
非破壞暨顯微分析技術在藝術與文化遺產之應用(TECHNART 2019)國際研討會
基本資料
系統識別號: |
C10802015 |
相關專案: |
無 |
計畫名稱: |
非破壞暨顯微分析技術在藝術與文化遺產之應用(TECHNART 2019)國際研討會# |
報告名稱: |
非破壞暨顯微分析技術在藝術與文化遺產之應用(TECHNART 2019)國際研討會 |
電子全文檔: |
C10802015_1.pdf
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附件檔: |
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報告日期: |
108/08/21 |
報告書頁數: |
23 |
計畫主辦機關資訊
姓名 |
服務機關 |
服務單位 |
職稱 |
官職等 |
陳東和 |
國立故宮博物院 |
登錄保存處 |
副研究員 |
薦任 |
報告內容摘要
TECHNART「非破壞暨顯微分析技術在藝術與文化遺產之應用」會議為目前有關藝術與文化遺產科學研究分析領域最重要的國際會議之一,過去曾在里斯本、雅典、柏林、阿姆斯特丹及義大利的卡塔尼亞(2015)及西班牙畢爾包(2017)舉辦,2019年的TECHNART 則由比利時安特衛普大學主辦,於2019年5月7-10日在布魯日(Bruges)舉行,有來自全世界各博物館、大學、研究機構和文物保存中心的文物科學分析及文物保存相關專家學者及學生出席盛會,發表了共403篇論文。本院此次出席會議主要發表口頭論文一篇,海報論文兩篇。出席會議之目的除了發表論文外,主要能與各國專家學者面對面討論交流,了解文物科學分析技術和應用之最前沿的發展和相關議題,吸收相關知識,同時也讓其他國家了解本院在此一領域的研究成果,並建立交流網絡。
其他資料
前往地區: |
比利時;法國; |
參訪機關: |
TECHNART 2019會議;比利時皇家藝術博物館群;法國自然史博物館;巴黎索邦大學;Guimet亞洲藝術博物館,Sèvres國立陶瓷博物館 |
出國類別: |
開會 |
關鍵詞: |
科學分析,非破壞,顯微分析,文物保存,TECHNART |
備註: |
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