海軍軍官學校
低溫多晶矽可饒式薄膜電晶體可靠度研究 (Reliability of Flexible Low Temperature Poly-Silicon Thin Film Transistor)
基本資料
系統識別號: |
C10801307 |
相關專案: |
無 |
計畫名稱: |
多晶矽鰭式電晶體與電阻式記憶體整合架構下之元件# |
報告名稱: |
低溫多晶矽可饒式薄膜電晶體可靠度研究 (Reliability of Flexible Low Temperature Poly-Silicon Thin Film Transistor) |
電子全文檔: |
C10801307_1.pdf
|
附件檔: |
|
報告日期: |
108/05/29 |
報告書頁數: |
9 |
計畫主辦機關資訊
計畫主辦機關: |
海軍軍官學校
|
出國期間: |
108/05/18 至 108/05/24 |
姓名 |
服務機關 |
服務單位 |
職稱 |
官職等 |
陳柏勳 |
海軍軍官學校 |
海軍軍官學校 |
少校助理教師 |
教師 |
報告內容摘要
本次至日本京都參加大型積體電路半導體技術與薄膜電晶體(2019 ULSIC TFT VII Conference)國際學術研討會,研討會主席為美國德州農州大學郭育教授為IEEE與ECS會士,也是國際上相當知名之學者。本次研討會郭教授邀請日本、韓國、台灣、大陸與歐美等知名學者與會,內容相當豐富。
本次利用參與研討會之機會,除了解現今大型積體電路半導體技術與薄膜電晶體等最新發展技術外,另參與著名國際研究學者積極參與討論並建立關係,包括日本相當著名的IGZO研究專家東京工業大學(Tokyo Institute of Technology)細野秀雄教授(Hideo Hosono)、研究新型非揮發記憶體相當著名的美國麻州大學電機系Qiangfei Xia教授、顯示器研究領域相當著名之韓國慶熙大學Jin Jang教授均參加與會參與演講。
其他資料
前往地區: |
日本; |
參訪機關: |
日本京都 |
出國類別: |
其他 |
關鍵詞: |
"日本","積體電路","半導體技術","薄膜電晶體" |
備註: |
|
分類瀏覽