國立故宮博物院
「非破壞暨顯微分析技術在藝術與文化遺產之應用」
基本資料
| 系統識別號： |
C10401145 |
| 相關專案： |
無 |
| 計畫名稱： |
「非破壞暨顯微分析技術在藝術與文化遺產之應用」# |
| 報告名稱： |
「非破壞暨顯微分析技術在藝術與文化遺產之應用」 |
| 電子全文檔： |
C10401145_50513.pdf
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| 附件檔： |
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| 報告日期： |
104/08/06 |
| 報告書頁數： |
14 |
計畫主辦機關資訊
| 姓名 |
服務機關 |
服務單位 |
職稱 |
官職等 |
| 陳東和 |
國立故宮博物院 |
登錄保存處 |
助理研究員 |
薦任 |
報告內容摘要
TECHNART「非破壞暨顯微分析技術在藝術與文化遺產之應用」會議為目前有關藝術與文化遺產科學檢測領域最重要的國際會議之一，過去曾在里斯本、雅典、柏林及阿姆斯特丹舉行，而TECHNART 2015則於義大利的卡塔尼亞盛大舉辦，聚集了全世界各博物館、大學、研究機構和文物保存中心的文物科學分析及文物保存相關專家學者及學生近千人，發表了共近500篇論文，為此領域有史以來最大規模的國際會議。此次本院出席會議共發表包括文物X光電腦斷層掃描及青瓷的X光吸收光譜研究共2篇論文。出席會議之目的除了發表論文外，主要是能與各國專家學者面對面討論交流，了解文物科學分析技術和應用之最前沿的發展和相關議題，同時也讓其他國家了解本院在此一領域的研究成果，並建立交流網絡
其他資料
| 前往地區： |
義大利; |
| 參訪機關： |
出席「非破壞暨顯微分析技術在藝術與文化遺產之應用」，義大利卡塔尼亞，本篤會修道院 |
| 出國類別： |
考察 |
| 關鍵詞： |
科學檢測、非破壞、文物保存、文化遺產、TECHNART |
| 備註： |
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