X光螢光分析儀（X-ray Fluorescence，簡稱XRF），藉由X光管產生一級X光，通過濾光片除去雜質射線後，照射至樣品表面，激發樣品中所有特性譜線元素釋放二級X光（即X光螢光），依靈敏度或解析度之選擇，設定通過準直器及分光晶體之條件，最後進入偵檢器（計數器）中，X光光子能量轉換成電壓脈波輸出，透過PHA（Pulse Height Analysis）決定脈波高度上下限，確保待測元素訊號強度之完整性，再經由標準品所建立之檢量線，計算樣品中元素成分及濃度，達到定量分析目的。應用於金屬材料分析，更是充分展現其樣品製備簡單、分析元素範圍廣（ppm~100%）、快速分析及非破壞性分析之優點。 SPECTRAplus軟體具備定性、定量及半定量分析的特點，且分析程式之架構結合XRF分析原理，涵蓋樣品製備、標準品、分析方法、檢量線、數據處理及品管上下限等參數調設功能，依照操作說明及程序，熟悉系統並建立最佳化分析條件，並加以定期監控儀器分析品質及適時執行漂移校正程式，應足以確保分析結果之準確性及再現性。 本次赴德國Bruker AXS公司參加「X光螢光分析儀S8 Tiger軟體－SPECTRAplus 2.0版之操作及應用」訓練課程，除了再次加強XRF分析之基礎概念外，對SPECTRAplus軟體程式參數調整功能更為熟練，並透過實機操作及個別指導方式，學習獨立完成分析程式之建立，較能確實掌握整套XRF系統的運作模式及應用。