經濟部標準檢驗局
「赴美國芝加哥市參加2005IEEE EMC檢測技術研討會」出國報告
基本資料
系統識別號: |
C09403120 |
相關專案: |
無 |
計畫名稱: |
赴美國芝加哥市參加2005IEEE EMC研討會# |
報告名稱: |
「赴美國芝加哥市參加2005IEEE EMC檢測技術研討會」出國報告 |
電子全文檔: |
C09403120_13247.doc
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附件檔: |
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報告日期: |
94/11/11 |
報告書頁數: |
14 |
計畫主辦機關資訊
姓名 |
服務機關 |
服務單位 |
職稱 |
官職等 |
謝翰璋 |
經濟部標準檢驗局 |
第六組 |
簡任技正 |
簡任 |
唐永奇 |
經濟部標準檢驗局 |
第六組 |
技士 |
薦任 |
報告內容摘要
EMC最大的活動都是在美國舉行,今年也如往年一般,就在美國的芝加哥舉辦,也許經過911的洗禮之後,參加活動的人數似乎有比較少些;但對本局而言,今年卻是最盛大的一年:陳誠章技士參與一篇論文的發表、而唐永奇技士在前三天參加日本VCCI的研討會,介紹國內的EMC發展情形,後半段則協助國內將在今年舉辦亞太EMC研討會的推廣工作,至於謝翰璋技正則代表國內IEEE EMC分會主席,主持今年亞太EMC研討會的現場推廣招商工作。
其他資料
前往地區: |
美國; |
參訪機關: |
美國 IEEE EMC 協會 |
出國類別: |
其他 |
關鍵詞: |
電磁相容 |
備註: |
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