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出國報告資料

奈米尺度量測技術

瀏覽人次: 2171

a【基本資料】

系統識別號: C09300349
相關專案:
計畫名稱: 奈米尺度量測技術#
報告名稱: 奈米尺度量測技術
電子全文檔: doc C09300349_8415.doc
附件檔: 瀏覽掃描影像檔.hyb 總共 38
報告日期: 93/01/28
報告書頁數: 18

b【計畫主辦機關資訊】

計畫主辦機關: 經濟部 http://www.moea.gov.tw/Mns/populace/home/Home.aspx
出國人員: 出國人員名單
姓名 服務機關 服務單位 職稱 官職等
黃宗銘 經濟部 標準檢驗局第六組 工程師 聘、雇
出國期間: 92/10/18 至 92/11/24

c【其他資料】

前往地區: 東德;
參訪機關:
出國類別: 實習
關鍵詞: AFM(原子力顯微鏡),XRD(X光粉末繞射)
備註:

d【分類瀏覽】

主題分類:
施政分類:

e【報告內容摘要】

本次參加九十二年度台德技術合作計畫,赴德國研習「奈米尺度量測技術」為期三十九天。除實際研習相關技術外,並參訪數個極富盛名的研究機構。研習期間自九十二年十月十八日至九十二年十一月二十五日止。奈米科技是人類科技的重大演進。在未來的十幾年內,他將逐步襲捲各個行業,並成為未來產業競爭力的主要決定因素。當物質尺度縮小至奈米層級時,往常不易見到的量子性質、效應均顯露出來。產業界對其新發現之光、電、磁等現象均極為重視。作為一檢驗、驗證機構我們希望從尺度量測為起點,展開自己的奈米計劃。本次赴徳研習就是從顯微鏡量測系統、X光繞射量測系統等基本尺度量測技術開始,除研習該等技術發展外,並廣泛的了解一些德國學術研究機構目前奈米科技的發展狀況。研習的儀器包含AFM、XRD、SEM、TEM、MBE等,參訪的單位包括Technical University Ilmenau Center for Micro- and Nanotechnology, Max-Planck-Institute for Microstructurephysics Halle, Fraunhofer Institute for Micromechanical Components and Nanotechnologies, Fraunhofer Institute for Diagnostic and Assessment of Microsystem, University Kassel Institute for Microstructuretechnology and analytic, Institute for Physical High Technology JENA, autronic-MELCHERS GmbH.