IEEE的SoC Chapter每年都會舉行年度的系統晶片(SoC)國際研討會，第23屆 IEEE國際會議的SoC（SOCC 2010年）在內華達州的拉斯維加斯市舉辦，在過去23年的IEEE SoC大會已經使其為VLSI及系統晶片領域年度主要事件。這個會議提供了一個平台，以便分享、傳播原創性研究及技術教導，並使其成為在VLSI及SoC技術之新興挑戰的辯論論壇。 SOCC是一個很好的地方，讓工程師或研究人員，了解最新的技術成果(例如3D-IC,信號完整性等)，了解先進的 CAD和EDA工具，及相關設備等。 本局為執行100年科專計畫主題為系統晶片電磁相容之電磁相容(EMC)/信號完成性(Signal Integrity; SI)/電源完整性(Power Integrity; PI)，派第六組電磁科陳秋國技士參與此SOCC研討會，在會場研習及蒐集有關3D-IC、SoC、及信號完整性等相關最新的技術資料，以利100年執行科專計畫時往最前瞻的技術方向做研究及檢測技術建置。