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赴美國內華達州拉斯維加斯參加「2010 IEEE SoC Conference(SOCC)」國際研討會心得報告
基本資料
系統識別號: | C09903115 |
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相關專案: | 無 |
計畫名稱: | 23rd IEEE InternATIONAL sOc cONFERENCE國際系統晶片研討會 |
報告名稱: | 赴美國內華達州拉斯維加斯參加「2010 IEEE SoC Conference(SOCC)」國際研討會心得報告 |
電子全文檔: |
C09903115_31171.pdf
|
附件檔: | |
報告日期: | 99/12/29 |
報告書頁數: | 16 |
計畫主辦機關資訊
計畫主辦機關: | 經濟部標準檢驗局 http://www.bsmi.gov.tw/ |
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出國期間: | 99/09/26 至 99/10/02 |
姓名 | 服務機關 | 服務單位 | 職稱 | 官職等 |
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陳秋國 | 經濟部標準檢驗局 | 第六組 | 技士 | 薦任 |
報告內容摘要
IEEE的SoC Chapter每年都會舉行年度的系統晶片(SoC)國際研討會,第23屆 IEEE國際會議的SoC(SOCC 2010年)在內華達州的拉斯維加斯市舉辦,在過去23年的IEEE SoC大會已經使其為VLSI及系統晶片領域年度主要事件。這個會議提供了一個平台,以便分享、傳播原創性研究及技術教導,並使其成為在VLSI及SoC技術之新興挑戰的辯論論壇。
SOCC是一個很好的地方,讓工程師或研究人員,了解最新的技術成果(例如3D-IC,信號完整性等),了解先進的 CAD和EDA工具,及相關設備等。
本局為執行100年科專計畫主題為系統晶片電磁相容之電磁相容(EMC)/信號完成性(Signal Integrity; SI)/電源完整性(Power Integrity; PI),派第六組電磁科陳秋國技士參與此SOCC研討會,在會場研習及蒐集有關3D-IC、SoC、及信號完整性等相關最新的技術資料,以利100年執行科專計畫時往最前瞻的技術方向做研究及檢測技術建置。
其他資料
前往地區: | 美國; |
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參訪機關: | 參加「2010 IEEE SoC Conference(SOCC)」國際研討會 |
出國類別: | 其他 |
關鍵詞: | 電磁相容,系統晶片,信號完整性,電源完整性,3D-IC, SoC, IC-EMC,SI,PI |
備註: |
分類瀏覽
主題分類: | 綜合行政 |
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施政分類: | 國家發展及科技 |