本年度本局第六組電磁相容科林技士明山與逢甲大學林漢年教授等5員共同撰寫「Design and Validation of a Movable Pin-Contact Miniature Current Probe for Chip-Level EMI Noise Measurement」技術論文一篇，投稿於EMC Europe 2017研討會，本項論文已安排於研討會中發表。為蒐集國際電磁相容最新檢測與驗證技術資料，與國際電磁相容領域之專家與學者進行技術交流，建立連絡管道，以利後續科專、科發計畫之執行，並接受與會人士技術諮詢，指派本局林技士明山出席該研討會。EMC Europe 2017全部發表論文數有255篇，其中主辦國法國、德國及日本論文數相加即超過總數的一半。除了日本、中國之外，投稿前10名的國家主要集中在歐洲國家，美國的投稿僅4篇。本局發展積體電路晶片電磁相容量測技術與研究已發展多年，國際積體電路晶片電磁相容測試國際標準有發射干擾為IEC 61967系列標準、耐受性為IEC 62132系列標準而晶片電磁相容模型為IEC 62433系列標準，IEC 61967及62132標準均已相當完備，有關晶片電磁相容模型之國際標準目前仍持續發展中，參加本次研討會可瞭解晶片電磁相容模型之國際標準最新發展情況。