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經濟部標準檢驗局

赴美國Washington DC參加IEEE EMC+SIPI 2017國際研討會心得報告

基本資料

系統識別號: C10601292
相關專案:
計畫名稱: 參加IEEE EMC+SIPI 2017國際研討會#
報告名稱: 赴美國Washington DC參加IEEE EMC+SIPI 2017國際研討會心得報告
電子全文檔: C10601292_1.pdf
附件檔:
報告日期: 106/10/27
報告書頁數: 46

計畫主辦機關資訊

計畫主辦機關: 經濟部標準檢驗局 http://www.bsmi.gov.tw/
出國期間: 106/08/06 至 106/08/13
姓名 服務機關 服務單位 職稱 官職等
陳滄洲 經濟部標準檢驗局 技士 其他

報告內容摘要

由電機電子工程師學會電磁相容分會(IEEE EMC Society)所舉辦的國際電磁相容研討會(International Symposium on Electromagnetic Compatibility),係為目前世界上最大的電磁相容標準、量測技術、學術整合、以及產業交流的國際性舞台,常年於美國境內舉辦,去(2016)年特別移師到加拿大的首都渥太華舉行,今年的地點則選在美國之華盛頓特區Gaylord National Resort & Convention Center(蓋洛德國家渡假及會議中心)。本次會議共蒐集了將近200篇頂尖論文、數個不同主題的研討會及課程、以及電磁相容技術的現場示範與解說。此外,因過去幾次研討會融入信號與電源完整性(SIPI,Signal and Power Integrity)等主題,深獲好評,會議也開闢相關的專題研討會,供與會的專家學者經驗分享及技術交流,因此,藉由參與研討會的第一手資訊蒐集,可為本局未來在智慧化產業中電磁相容標準、檢測與驗證技術上重要之參考。

其他資料

前往地區: 美國;
參訪機關: 華盛頓特區Gaylord National Resort & Convention Center(蓋洛德國家渡假及會議中心)
出國類別: 其他
關鍵詞: 2017,IEEE,EMC,電磁相容,國際研討會
備註: N/A

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主題分類: 標準檢驗
施政分類: 商品檢驗
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