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經濟部標準檢驗局

第18屆ISO/TC229奈米技術委員會之全體會議及工作小組會議報告

基本資料

系統識別號: C10403433
相關專案:
計畫名稱: 參加第18屆ISO/TC229奈米技術委員會之全體會議及工作小組會議#
報告名稱: 第18屆ISO/TC229奈米技術委員會之全體會議及工作小組會議報告
電子全文檔: C10403433_2.odt C10403433_52395.docx
附件檔:
報告日期: 104/12/17
報告書頁數: 23

計畫主辦機關資訊

計畫主辦機關: 經濟部標準檢驗局 http://www.bsmi.gov.tw/
出國期間: 104/09/26 至 104/10/04
姓名 服務機關 服務單位 職稱 官職等
翁小晴 經濟部標準檢驗局 第一組 技士 薦任

報告內容摘要

目前,世界各國的政府無不出面整合產、官、學、研各界,全力投入奈米科技的研發。本局今年出席18th ISO/TC229奈米技術委員會之全體會議)及聯合工作小組會議,藉由參與國際標準組織,學習並掌握國際間相關產業發展及標準現況。 本次參與之第2工作小組專責奈米領域之量測及特性分析,包括計量、量測矩陣、奈米及磁性懸浮微粒、石墨烯特性分析等,大會於9月27日至10月1日於加拿大埃德蒙頓(The Westin Edmonton)召開第18屆ISO/TC229奈米技術委員會工作小組會議,10月2日於艾伯達創新科技中心進行參訪及召開全體會議,出席的國家包括澳洲等13個國家,另外包含亞太奈米聯盟(Asia Nano Forum,ANF)等11個內部聯盟,總計約45人。 本次全體會議議程,包括會員國、觀察會員國及內部聯盟之點名、17th ISO/TC229於印度新德里舉辦之會議報告,4個工作小組之工作進度回報、ISO/TC229大會總決議事項等,並決議19th ISO/TC229奈米技術委員會訂於2016年11月7日至11月11日由新加坡舉辦。

其他資料

前往地區: 加拿大;
參訪機關: ALBERTA INNOVATES TECHNOLOGY FUTURES(AITF),UNIVERSITY OF ABERTA[INCLUDING NATIONAL INSTITUTE FOR NANOTECHNOLOGY(NINT),FABRICATION & CHARACTERIZATION FACILITY FAB(nanoFAB)]
出國類別: 其他
關鍵詞: 奈米科技,國際標準,ISO,奈米諮議會
備註:

分類瀏覽

主題分類: 標準檢驗
施政分類: 標準
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