本次赴法研習主要是為學習積體電路電磁相容(IC-EMC)的量測與其模型建立，並蒐集標準及實驗室建立相關的資料，以利可以加速本局積體電路電磁相容驗證實驗室檢測能量的建立。為了進一步了解及驗證課堂上的理論，在IC-EMI及IC-EMS量測分別以S12X及PIC 18f452當案例實際進行研習，在IC-EMI模型的建立，則以PIC 18f452為案例，對TEM cell, 1Ohm/150Ohm法，在TEM Cell法模型估測部份，所使用的待測IC，其工作頻率為10MHz，實驗時，將測試板放在TEM Cell上作量測並建立其模型，所得的模型，經使用spice模擬，得到的實驗結果，在頻率範圍10MHz~200MHz內之工作頻率整數倍的頻率點，除了10MHz、20MHz外，其預測值與量測值的誤差均分別為11.218dB V、5.889 dB V，其餘都約在3dB V以內，且所預估的電磁干擾波形，其整體的趨勢、形狀、電磁干擾發生的頻率點，都非常相近實際量測的結果。在1Ohm/150Ohm模型估測部份，在10M~200MHz，其模型估測的結果，所預估的電磁干擾波形，其整體的趨勢、形狀、電磁干擾發生的頻率點，亦都非常相近實際量測的結果。此外，我們亦介紹歐洲2006年 EMC研討會、國際標準的發展趨勢與近況，及未來標準檢驗局積體電路電磁相容實驗室發展的基礎建設的規劃。