經濟部標準檢驗局
「赴美國參加2005年IEEE 電磁相容技術研討會」出國報告
基本資料
系統識別號: |
C09404414 |
相關專案: |
無 |
計畫名稱: |
赴國外參加IEEE電磁相容技術研討會# |
報告名稱: |
「赴美國參加2005年IEEE 電磁相容技術研討會」出國報告 |
電子全文檔: |
C09404414_14100.doc
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附件檔: |
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報告日期: |
94/11/14 |
報告書頁數: |
9 |
計畫主辦機關資訊
姓名 |
服務機關 |
服務單位 |
職稱 |
官職等 |
陳誠章 |
經濟部標準檢驗局 |
第六組 |
技士 |
薦任 |
報告內容摘要
一年一度的EMC國際研討會今年在美國芝加哥舉行,本局為電氣產品電磁相容(EMC)之主管單位,必須了解目前國際電磁相容之趨勢,以便政策上能有所因應,我國因為並非國際標準組織之會員國,因此資訊取得更是不易,更是不能在此一全球指標性之會議缺席。這次行程中發現IC EMC、EM NUMERICAL、NEAR FIELD 量測有著大量論文在討論,畢竟任何事情之預防必定往源頭走,EMC當然也不例外。
其他資料
前往地區: |
美國; |
參訪機關: |
IEEE EMC 研討會 |
出國類別: |
其他 |
關鍵詞: |
EMC |
備註: |
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